南寧石碣試驗(yàn)箱-南寧石碣試驗(yàn)箱性能卓越

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導(dǎo)讀

問題	答案
南寧石碣試驗(yàn)箱典型溫度范圍	-70℃~+300℃（部分型號支持更高溫度）
核心選型參數(shù)	溫度均勻性（±1℃~±3℃）、負(fù)載容量（100L~2000L）、控制方式（PID/PLC）
關(guān)鍵標(biāo)準(zhǔn)	IEC 60068-2-2（高溫試驗(yàn)）、GB/T （電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)）
常見故障	加熱管損壞、傳感器漂移、循環(huán)風(fēng)道堵塞
維護(hù)周期	每3個(gè)月清潔風(fēng)道，每6個(gè)月校準(zhǔn)傳感器

試驗(yàn)?zāi)康呐c失效機(jī)理
高溫老化試驗(yàn)用于模擬產(chǎn)品長期暴露于高溫環(huán)境下的性能衰減，常見失效模式包括：

關(guān)鍵參數(shù)與技術(shù)邊界

參數(shù)	典型值	應(yīng)用場景	標(biāo)準(zhǔn)依據(jù)
溫度范圍	-70℃~+300℃	極低溫存儲(chǔ)/高溫加速老化	IEC 60068-2-1/-2-2
溫度均勻性	±1℃（空載）~±3℃（滿載）	精密電子/半導(dǎo)體測試	GB/T
升溫速率	3℃/min~10℃/min	快速溫變試驗(yàn)	MIL-STD-810G
安全聯(lián)鎖	超溫報(bào)警、門鎖保護(hù)	防止人員誤操作導(dǎo)致設(shè)備損壞	ISO 13849（機(jī)械安全）

典型工況與控制方式

伺服控制：適用于高精度試驗(yàn)（如半導(dǎo)體封裝測試），通過PID算法實(shí)現(xiàn)溫度閉環(huán)控制，分辨率達(dá) ℃。
液壓控制：用于大負(fù)載試驗(yàn)（如汽車發(fā)動(dòng)機(jī)部件），通過液壓系統(tǒng)驅(qū)動(dòng)試樣架，采樣率≥10Hz。

選型決策流程

明確需求：確定試樣尺寸（長×寬×高）、負(fù)載重量、測試溫度范圍。
參數(shù)匹配：根據(jù)溫度均勻性、升溫速率選擇設(shè)備型號。
標(biāo)準(zhǔn)驗(yàn)證：確認(rèn)設(shè)備符合行業(yè)測試標(biāo)準(zhǔn)（如汽車行業(yè)需通過ISO 16750）。
廠商評估：考察廠商資質(zhì)（如CNAS實(shí)驗(yàn)室認(rèn)可）、售后服務(wù)響應(yīng)時(shí)間。

選型對比表

型號	溫度范圍	濕度范圍	容積（L）	控制精度	符合標(biāo)準(zhǔn)	附加特性
SJ-HT-100	RT~+150℃	不支持	100	±2℃	GB/T	獨(dú)立風(fēng)道設(shè)計(jì)
SJ-HT-500	-70℃~+300℃	10%~98%RH	500	± ℃	IEC 60068-2-2	遠(yuǎn)程監(jiān)控接口
SJ-HT-2000	RT~+250℃	不支持	2000	±3℃	ASTM D1171	多段程序控溫

采購流程

需求確認(rèn)：填寫《試驗(yàn)箱技術(shù)需求表》（含試樣尺寸、溫度范圍、標(biāo)準(zhǔn)要求）。
技術(shù)協(xié)議：明確設(shè)備參數(shù)、交付周期、培訓(xùn)服務(wù)。
報(bào)價(jià)對比：要求廠商提供分項(xiàng)報(bào)價(jià)（含設(shè)備、運(yùn)輸、安裝）。
FAT/SAT：
- FAT（工廠驗(yàn)收）：檢查設(shè)備外觀、運(yùn)行噪音、溫度均勻性。
- SAT（現(xiàn)場驗(yàn)收）：模擬實(shí)際工況測試，驗(yàn)證報(bào)警功能。

驗(yàn)收與校準(zhǔn)清單