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隆安
2026-01-06 09:01:01
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老化房、試驗(yàn)箱、老化箱/柜 > 生產(chǎn)廠家
隆安老化設(shè)備25生產(chǎn)廠家直銷價(jià)格，品質(zhì)售后雙保障，廠家直供價(jià)更優(yōu)！ 馬上咨詢
恒溫恒濕試驗(yàn)箱高溫箱是材料與產(chǎn)品環(huán)境適應(yīng)性測(cè)試的核心設(shè)備，選型需關(guān)注溫度/濕度范圍、控制精度、負(fù)載能力及安全標(biāo)準(zhǔn)。典型應(yīng)用包括電子元器件高溫老化、汽車零部件濕熱循環(huán)測(cè)試。采購需通過技術(shù)協(xié)議明確參數(shù)、驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)及維保條款，避免因參數(shù)虛標(biāo)或服務(wù)缺失導(dǎo)致測(cè)試失效。
恒溫恒濕試驗(yàn)箱高溫箱通過模擬極端溫濕度環(huán)境，驗(yàn)證材料、電子元件及產(chǎn)品的可靠性。選型需優(yōu)先滿足測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)（如IEC 60068、GB/T 2423），重點(diǎn)考察溫度范圍（-70℃~+180℃）、濕度控制（10%~98%RH）、負(fù)載容量及安全聯(lián)鎖功能。避免選擇參數(shù)虛標(biāo)、無校準(zhǔn)資質(zhì)的廠商。
| 問題 | 答案 |
|---|---|
| 高溫箱溫度精度要求？ | ±0.5℃（伺服控制）或±2℃（普通PID） |
| 典型濕度波動(dòng)范圍？ | ±2%RH（穩(wěn)定工況） |
| 設(shè)備壽命周期？ | 8-12年（定期維護(hù)下） |
| 關(guān)鍵安全功能？ | 超溫保護(hù)、門鎖聯(lián)鎖、漏電保護(hù) |
| 參數(shù) | 定義 | 典型值 | 選型建議 |
|---|---|---|---|
| 溫度范圍 | 設(shè)備可達(dá)到的最低/最高溫度 | -70℃~+180℃ | 覆蓋測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)+20%余量 |
| 濕度范圍 | 相對(duì)濕度控制能力 | 10%~98%RH | 優(yōu)先選擇干濕球傳感器 |
| 溫度均勻性 | 工作室內(nèi)各點(diǎn)溫差 | ≤2℃ | 風(fēng)速≥1m/s可優(yōu)化均勻性 |
| 負(fù)載容量 | 最大可放置試樣質(zhì)量 | 50kg~2t | 按試樣密度×體積計(jì)算 |
致：XX廠商
需采購恒溫恒濕試驗(yàn)箱高溫箱1臺(tái)，要求：
1. 溫度范圍：-40℃~+150℃
2. 濕度范圍：20%~95%RH
3. 負(fù)載容量：≥300kg
4. 符合標(biāo)準(zhǔn)：IEC 60068-2-1/2-2
請(qǐng)?zhí)峁┘夹g(shù)方案、報(bào)價(jià)及FAT（工廠驗(yàn)收測(cè)試）條款。
| 品牌 | 溫度范圍 | 濕度控制 | 附加功能 | 價(jià)格（萬元） |
|---|---|---|---|---|
| ESPEC（日本） | -70℃~+180℃ | ±1.5%RH | 遠(yuǎn)程監(jiān)控 | 45~80 |
| CSZ（美國(guó)） | -40℃~+150℃ | ±2%RH | 數(shù)據(jù)追溯 | 38~65 |
| 國(guó)內(nèi)A品牌 | -20℃~+120℃ | ±3%RH | 無 | 12~25 |
| 周期 | 項(xiàng)目 | 標(biāo)準(zhǔn) |
|---|---|---|
| 每月 | 清潔冷凝器 | 風(fēng)速≥1.5m/s |
| 每季 | 校準(zhǔn)溫濕度傳感器 | 符合JJF 1101 |
| 每年 | 更換壓縮機(jī)潤(rùn)滑油 | ISO VG32 |
A：要求廠商提供第三方校準(zhǔn)證書，重點(diǎn)核查溫度均勻性（≤2℃）和濕度波動(dòng)度（±2%RH）?？涩F(xiàn)場(chǎng)目擊FAT測(cè)試，記錄升溫至150℃時(shí)的穩(wěn)定時(shí)間。
A：高溫箱僅控制溫度（如-70℃~+300℃），恒溫恒濕箱同時(shí)控制溫濕度（-70℃~+180℃/10%~98%RH）。選型時(shí)需明確測(cè)試是否需要濕度條件。
A：核心差異在于控制方式（伺服PID成本高30%）、傳感器精度（進(jìn)口傳感器貴2倍）、安全功能（超溫保護(hù)模塊差異）。低價(jià)設(shè)備可能省略過載保護(hù)或校準(zhǔn)服務(wù)。
A：若測(cè)試需記錄溫濕度曲線（如汽車電子AEC-Q100標(biāo)準(zhǔn)），建議選擇帶485接口或SD卡存儲(chǔ)的設(shè)備。普通測(cè)試可使用外置數(shù)據(jù)記錄儀替代。
A：必須重新校準(zhǔn)。運(yùn)輸可能導(dǎo)致傳感器移位或制冷系統(tǒng)泄漏，依據(jù)JJF 1101-2019要求，環(huán)境條件變化后需重新計(jì)量。
因老化試驗(yàn)設(shè)備參數(shù)各異，為確保高效匹配需求，請(qǐng)您向我說明測(cè)試要求，我們將為您1對(duì)1定制技術(shù)方案
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