目錄

1. 一、核心結(jié)論與設(shè)備定位
2. 二、快速答案卡片
3. 三、選型決策流程與技術(shù)參數(shù)
4. 四、典型型號(hào)參數(shù)對(duì)比表
5. 五、采購(gòu)全流程Checklist
6. 六、常見(jiàn)故障與維護(hù)要點(diǎn)
7. 七、高頻問(wèn)題解答（FAQ）
8. 八、外部權(quán)威參考
9. 九、聲明與免責(zé)

一、核心結(jié)論與設(shè)備定位

同江環(huán)保試驗(yàn)箱是高溫老化環(huán)境測(cè)試的核心設(shè)備，廣泛應(yīng)用于電子元器件、汽車零部件、新能源電池等行業(yè)的可靠性驗(yàn)證。其核心功能是通過(guò)模擬高溫環(huán)境（通常60℃~200℃），加速產(chǎn)品老化過(guò)程，暴露設(shè)計(jì)缺陷，確保產(chǎn)品符合IEC 60068-2-2《環(huán)境試驗(yàn) 第2-2部分：試驗(yàn) 試驗(yàn)B：干熱》等國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)。選型時(shí)需重點(diǎn)關(guān)注溫度均勻性（±2℃以內(nèi)）、負(fù)載容量（單層承重≥5kg）及安全聯(lián)鎖機(jī)制（超溫自動(dòng)斷電）。

二、快速答案卡片

三、選型決策流程與技術(shù)參數(shù)

1. 參數(shù)解釋表

2. 選型決策流程

1. 明確測(cè)試需求：試樣尺寸（長(zhǎng)×寬×高）、溫度范圍、測(cè)試周期
2. 驗(yàn)證標(biāo)準(zhǔn)符合性：核對(duì)設(shè)備是否滿足GB/T 2423.2-2008《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B：干熱》
3. 評(píng)估供應(yīng)商資質(zhì)：要求提供CNAS認(rèn)可實(shí)驗(yàn)室報(bào)告及同類客戶案例（如華為、比亞迪等）
4. 執(zhí)行樣機(jī)測(cè)試：要求供應(yīng)商提供72小時(shí)連續(xù)運(yùn)行數(shù)據(jù)記錄

3. 詢價(jià)模板

致：XX公司
需采購(gòu)?fù)h(huán)保試驗(yàn)箱1臺(tái)，要求如下：
1. 溫度范圍：RT+10℃~180℃
2. 容積：≥500L
3. 控制方式：PID微電腦控制
4. 安全標(biāo)準(zhǔn)：符合IEC 60068-2-2
請(qǐng)于3個(gè)工作日內(nèi)提供技術(shù)方案、報(bào)價(jià)及交貨周期。

四、典型型號(hào)參數(shù)對(duì)比表

五、采購(gòu)全流程Checklist

1. 需求確認(rèn)：明確測(cè)試對(duì)象、溫度曲線、試樣數(shù)量
2. 技術(shù)協(xié)議：約定溫度波動(dòng)度、均勻性、升溫速率等關(guān)鍵指標(biāo)
3. 報(bào)價(jià)對(duì)比：要求供應(yīng)商提供分項(xiàng)報(bào)價(jià)（設(shè)備、運(yùn)輸、安裝、培訓(xùn)）
4. FAT驗(yàn)收（工廠驗(yàn)收）：
   • 空載運(yùn)行72小時(shí)，記錄溫度曲線
   • 加載50%額定負(fù)載，驗(yàn)證溫度均勻性
5. SAT驗(yàn)收（現(xiàn)場(chǎng)驗(yàn)收）：
   • 連接被測(cè)產(chǎn)品，運(yùn)行完整測(cè)試周期
   • 核對(duì)數(shù)據(jù)記錄與報(bào)告生成功能
6. 計(jì)量校準(zhǔn)：每年委托第三方機(jī)構(gòu)（如中國(guó)計(jì)量科學(xué)研究院）進(jìn)行溫度場(chǎng)校準(zhǔn)
7. 維保合同：約定響應(yīng)時(shí)間（建議≤4小時(shí)）、備件庫(kù)存

六、常見(jiàn)故障與維護(hù)要點(diǎn)

維護(hù)周期表

七、高頻問(wèn)題解答（FAQ）

Q1：如何判斷設(shè)備溫度均勻性是否達(dá)標(biāo)？

在空載狀態(tài)下，將9個(gè)溫度傳感器均勻布置在工作室內(nèi)（上、中、下三層各3個(gè)），運(yùn)行至穩(wěn)定狀態(tài)后記錄數(shù)據(jù)。根據(jù)IEC 60068-2-2，最大溫差應(yīng)≤±2℃。建議委托第三方機(jī)構(gòu)（如SGS）進(jìn)行認(rèn)證。

Q2：設(shè)備支持哪些通信協(xié)議？

主流型號(hào)支持RS485（Modbus RTU）、以太網(wǎng)（Modbus TCP）及OPC UA協(xié)議。采購(gòu)時(shí)需明確是否需要與LIMS系統(tǒng)對(duì)接，部分廠商可定制協(xié)議轉(zhuǎn)換模塊。

Q3：高溫老化測(cè)試與恒溫恒濕測(cè)試的區(qū)別？

高溫老化測(cè)試僅控制溫度（如150℃），用于加速產(chǎn)品熱老化；恒溫恒濕測(cè)試需同時(shí)控制溫度（如85℃）和濕度（如85%RH），模擬濕熱環(huán)境。選型時(shí)需根據(jù)測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)（GB/T 2423.2 vs GB/T 2423.3）選擇設(shè)備類型。

八、外部權(quán)威參考

• 中國(guó)電器科學(xué)研究院《環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備校準(zhǔn)規(guī)范》
• IEC國(guó)際電工委員會(huì)《IEC 60068系列環(huán)境試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)》
• SGS通標(biāo)標(biāo)準(zhǔn)技術(shù)服務(wù)有限公司《高溫老化測(cè)試認(rèn)證指南》

九、聲明與免責(zé)