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隆安
2025-12-10 09:00:31
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老化房、試驗箱、老化箱/柜 > 生產(chǎn)廠家
隆安老化設(shè)備25生產(chǎn)廠家直銷價格，品質(zhì)售后雙保障，廠家直供價更優(yōu)！ 馬上咨詢
試驗箱機電是高溫老化環(huán)境測試的核心設(shè)備，選型需關(guān)注溫度范圍、控制精度、負載能力及安全標(biāo)準(zhǔn)。典型工況下需匹配試樣尺寸與控制方式，優(yōu)先選擇符合IEC 60068/GB/T 2423等標(biāo)準(zhǔn)的設(shè)備。采購流程應(yīng)包含技術(shù)協(xié)議確認、FAT/SAT驗收及長期維保計劃，避免因參數(shù)虛標(biāo)或維護缺失導(dǎo)致測試失效。
| 核心問題 | 答案 |
|---|---|
| 選型關(guān)鍵參數(shù) | 溫度范圍（-70℃~300℃）、控制精度±1℃、負載容量（kW） |
| 推薦標(biāo)準(zhǔn) | IEC 60068-2-1（高溫）、GB/T 2423.2 |
| 典型故障 | 加熱管斷路、傳感器偏移、安全聯(lián)鎖失效 |
| 維保周期 | 每6個月校準(zhǔn)傳感器，每年更換加熱元件 |
| 參數(shù) | 定義 | 典型值 | 選型建議 |
|---|---|---|---|
| 溫度范圍 | 箱內(nèi)可達到的最低/最高溫度 | -70℃~300℃ | 根據(jù)試樣耐溫極限+20%余量 |
| 控制精度 | 實際溫度與設(shè)定值的偏差 | ±0.5℃~±2℃ | 電子元器件測試需≤±1℃ |
| 升溫速率 | 空載時從室溫到最高溫的時間 | 3℃/min~10℃/min | 快速溫變測試需≥5℃/min |
| 負載容量 | 箱內(nèi)可放置試樣的總功率 | 0.5kW~50kW | 根據(jù)試樣發(fā)熱量計算 |
致：XX廠商
需采購高溫試驗箱1臺，要求：
1. 溫度范圍：RT+10℃~200℃
2. 容積：≥1m3
3. 控制精度：±1℃
4. 符合標(biāo)準(zhǔn)：IEC 60068-2-1
5. 提供FAT/SAT測試方案
請于3個工作日內(nèi)回復(fù)技術(shù)方案及報價。
工況：125℃持續(xù)1000小時，負載為PCB板（尺寸200×150×10mm）
關(guān)鍵參數(shù)：升溫速率5℃/min，控制方式PID伺服
失效機理：焊點蠕變、電解電容漏液、塑料件變形
工況：150℃持續(xù)2小時，負載為電池模組（50kg）
關(guān)鍵參數(shù)：安全聯(lián)鎖（雙回路超溫保護）、排氣系統(tǒng)（流量≥5m3/min）
失效機理：隔膜熔化、電解液分解、氣體膨脹
工況：-55℃~150℃快速溫變（5℃/min），試樣尺寸500×500×20mm
關(guān)鍵參數(shù)：溫度均勻性≤±2℃，采樣率10次/秒
失效機理：熱應(yīng)力導(dǎo)致的裂紋、涂層剝落
| 品牌 | 溫度范圍 | 濕度范圍 | 容積選項 | 控制精度 | 符合標(biāo)準(zhǔn) | 附加特性 |
|---|---|---|---|---|---|---|
| Espec | -70℃~300℃ | 10%~98%RH | 0.1~2m3 | ±0.5℃ | IEC 60068 | 遠程監(jiān)控 |
| CSZ | -40℃~180℃ | 5%~95%RH | 0.2~5m3 | ±1℃ | MIL-STD-810 | 爆炸防護 |
| 重慶四達 | RT~150℃ | 20%~80%RH | 0.05~1m3 | ±2℃ | GB/T 2423 | 中文界面 |
| 階段 | 關(guān)鍵動作 | 交付物 |
|---|---|---|
| 需求確認 | 明確測試標(biāo)準(zhǔn)、試樣參數(shù) | 技術(shù)規(guī)格書 |
| 技術(shù)協(xié)議 | 約定驗收標(biāo)準(zhǔn)、違約責(zé)任 | 雙方簽字協(xié)議 |
| FAT測試 | 在廠商處進行空載/負載測試 | FAT報告 |
| SAT測試 | 在用戶現(xiàn)場復(fù)現(xiàn)測試條件 | SAT報告 |
| 計量校準(zhǔn) | 委托第三方機構(gòu)校準(zhǔn)傳感器 | 校準(zhǔn)證書 |
| 周期 | 維護項目 | 工具/耗材 |
|---|---|---|
| 每周 | 清潔風(fēng)道、檢查門封條 | 壓縮空氣、無塵布 |
| 每月 | 校驗溫度傳感器 | 標(biāo)準(zhǔn)溫度源（如Fluke 9132） |
| 每年 | 更換加熱管、潤滑鉸鏈 | 原裝加熱元件、硅脂 |
A：基礎(chǔ)型（RT~150℃, 0.1m3）約5萬~8萬元；高端型（-70℃~300℃, 1m3, 符合MIL標(biāo)準(zhǔn)）約20萬~50萬元。價格差異主要取決于溫度范圍、控制精度和安全等級。
A：核查三證：ISO 9001質(zhì)量管理體系認證、設(shè)備CNAS校準(zhǔn)證書、類似項目案例（要求提供終端用戶聯(lián)系方式）。優(yōu)先選擇有10年以上行業(yè)經(jīng)驗且服務(wù)過軍工、汽車領(lǐng)域的廠商。
A：1）加熱管斷路（癥狀：升溫緩慢，用萬用表測量電阻）；2）傳感器偏移（癥狀：顯示溫度與實際溫度差＞3℃，需重新校準(zhǔn)）；3）安全聯(lián)鎖失效（癥狀：超溫未報警，檢查繼電器和線路）。
A：試驗箱機電專注高溫/低溫單一環(huán)境模擬，控制精度更高（±0.5℃）；恒溫恒濕箱增加濕度控制（5%~98%RH），但高溫上限通常≤150℃，適用于綜合環(huán)境測試。
A：進口設(shè)備（如Espec、CSZ）在長期穩(wěn)定性（MTBF＞5000小時）和安全設(shè)計（如防爆結(jié)構(gòu)）上更優(yōu)；國產(chǎn)設(shè)備（如重慶四達）在交貨周期（4~6周 vs 進口12~16周）和成本上占優(yōu)，但需嚴(yán)格驗收避免參數(shù)虛標(biāo)。
IEC國際電工委員會《IEC 60068-2-1環(huán)境試驗第2-1部分：試驗A：低溫》
中國電器科學(xué)研究院《GB/T 2423.2電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗B：高溫》
因老化試驗設(shè)備參數(shù)各異，為確保高效匹配需求，請您向我說明測試要求，我們將為您1對1定制技術(shù)方案
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