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隆安
2025-12-09 14:16:52
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老化房、試驗(yàn)箱、老化箱/柜 > 生產(chǎn)廠(chǎng)家
隆安老化設(shè)備25生產(chǎn)廠(chǎng)家直銷(xiāo)價(jià)格，品質(zhì)售后雙保障，廠(chǎng)家直供價(jià)更優(yōu)！ 馬上咨詢(xún)
泰州老化試驗(yàn)箱廠(chǎng)家直銷(xiāo)價(jià)格受溫度范圍、容積、控制精度等因素影響，通常在5萬(wàn)–50萬(wàn)元區(qū)間。用戶(hù)需結(jié)合測(cè)試需求（如IEC 60068-2-2標(biāo)準(zhǔn)、電子元件高溫老化場(chǎng)景）明確參數(shù)，優(yōu)先選擇通過(guò)CNAS認(rèn)證、提供FAT/SAT驗(yàn)收流程的廠(chǎng)商。選型時(shí)需重點(diǎn)關(guān)注安全聯(lián)鎖、溫度均勻性等核心指標(biāo)，避免低價(jià)陷阱。
| 核心參數(shù) | 典型值 |
|---|---|
| 溫度范圍 | 常溫+20℃～300℃ |
| 容積選項(xiàng) | 0.1m3～2m3 |
| 控制精度 | ±1℃（伺服控制） |
| 價(jià)格區(qū)間 | 5萬(wàn)–50萬(wàn)元 |
| 適用標(biāo)準(zhǔn) | IEC 60068-2-2、GB/T 2423.2 |
| 參數(shù) | 定義 | 典型失效場(chǎng)景 |
|---|---|---|
| 溫度均勻性 | 工作室內(nèi)各點(diǎn)溫差 | ＞3℃導(dǎo)致元件局部過(guò)熱 |
| 升溫速率 | 從常溫到設(shè)定溫度的時(shí)間 | 過(guò)慢影響測(cè)試效率 |
| 安全聯(lián)鎖 | 超溫/斷電自動(dòng)保護(hù) | 未觸發(fā)導(dǎo)致設(shè)備燒毀 |
| 負(fù)載容量 | 最大可放置試樣質(zhì)量 | 超載引發(fā)結(jié)構(gòu)變形 |
測(cè)試需求 → 溫度范圍 → 容積 → 控制方式 → 預(yù)算 → 廠(chǎng)商篩選 → 技術(shù)協(xié)議 → 樣品測(cè)試
致：XX廠(chǎng)商
請(qǐng)?zhí)峁┮韵乱?guī)格老化試驗(yàn)箱報(bào)價(jià)：
1. 溫度范圍：RT+10℃～200℃
2. 容積：0.5m3（內(nèi)尺寸≥800×600×800mm）
3. 控制方式：PID伺服控制，分辨率0.1℃
4. 安全功能：超溫報(bào)警、門(mén)鎖聯(lián)鎖、漏電保護(hù)
5. 符合標(biāo)準(zhǔn)：IEC 60068-2-2
6. 交貨期：≤30天
7. 質(zhì)保期：≥2年
| 廠(chǎng)商 | 溫度范圍 | 濕度范圍 | 控制精度 | 附加特性 | 價(jià)格（萬(wàn)元） |
|---|---|---|---|---|---|
| 隆安設(shè)備 | RT～300℃ | 20%～98%RH | ±0.5℃ | 遠(yuǎn)程監(jiān)控、數(shù)據(jù)追溯 | 18～35 |
| 泰科儀器 | RT～250℃ | 不支持 | ±1℃ | 手動(dòng)調(diào)節(jié)、基礎(chǔ)報(bào)警 | 8～15 |
| 海達(dá)試驗(yàn) | RT～350℃ | 10%～95%RH | ±1.5℃ | 多段程序控溫 | 25～45 |
| 故障 | 可能原因 | 解決方案 |
|---|---|---|
| 溫度波動(dòng)＞2℃ | 加熱管老化、風(fēng)道堵塞 | 更換加熱管、清理通風(fēng)口 |
| 超溫報(bào)警頻繁 | 傳感器偏移、控制板故障 | 校準(zhǔn)傳感器、更換控制板 |
| 升溫速率下降 | 接觸器觸點(diǎn)氧化、電源缺相 | 打磨觸點(diǎn)、檢查三相電 |
| 校準(zhǔn)點(diǎn) | 設(shè)定值（℃） | 實(shí)測(cè)值（℃） | 偏差（℃） |
|---|---|---|---|
| 50 | 50.0 | 50.3 | +0.3 |
| 150 | 150.0 | 149.7 | -0.3 |
| 250 | 250.0 | 250.2 | +0.2 |
優(yōu)先選擇通過(guò)CNAS認(rèn)證的廠(chǎng)商，查看其2025年后為汽車(chē)電子（如特斯拉供應(yīng)商）、軍工企業(yè)提供的案例，要求提供設(shè)備序列號(hào)追溯記錄。
常見(jiàn)問(wèn)題包括：使用非標(biāo)加熱管（壽命＜2000小時(shí)）、省略超溫保護(hù)模塊、控制板采用低精度芯片（分辨率僅1℃）。
若測(cè)試對(duì)象為半導(dǎo)體封裝（如QFN）、塑料外殼，需濕度功能（IEC 60068-2-67標(biāo)準(zhǔn)）；純金屬元件測(cè)試可省略。
進(jìn)口設(shè)備（如德國(guó)Weiss）溫度均勻性可達(dá)±0.3℃，但價(jià)格是國(guó)產(chǎn)的2–3倍；國(guó)產(chǎn)設(shè)備在100℃以下測(cè)試中性能已接近進(jìn)口水平。
正常使用下（每日運(yùn)行≤8小時(shí)），加熱系統(tǒng)壽命約5–8年，控制系統(tǒng)3–5年需升級(jí)；定期維護(hù)可延長(zhǎng)至10年。
引用機(jī)構(gòu)：中國(guó)電器科學(xué)研究院《環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備校準(zhǔn)規(guī)范》（2025版）、SGS通標(biāo)標(biāo)準(zhǔn)技術(shù)服務(wù)有限公司環(huán)境測(cè)試實(shí)驗(yàn)室。
因老化試驗(yàn)設(shè)備參數(shù)各異，為確保高效匹配需求，請(qǐng)您向我說(shuō)明測(cè)試要求，我們將為您1對(duì)1定制技術(shù)方案
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