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隆安
2025-11-28 09:22:43
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老化房、試驗箱、老化箱/柜 > 生產(chǎn)廠家
隆安老化設(shè)備25生產(chǎn)廠家直銷價格，品質(zhì)售后雙保障，廠家直供價更優(yōu)！ 馬上咨詢
多晶硅組件雙85試驗箱（85℃/85%RH環(huán)境模擬設(shè)備）的專業(yè)性需通過控制精度、安全聯(lián)鎖、標(biāo)準(zhǔn)符合性及長期穩(wěn)定性綜合評估。優(yōu)先選擇符合IEC 61215、GB/T 9535等標(biāo)準(zhǔn)，具備PID自整定、獨立溫濕度傳感、過載保護功能的設(shè)備，避免因參數(shù)漂移或機械故障導(dǎo)致測試失效。
試驗?zāi)康?/strong>：模擬多晶硅組件在高溫高濕環(huán)境下的長期服役條件，加速老化以評估封裝材料（EVA、背板）、焊接點、電池片的耐候性。典型失效模式包括：
關(guān)鍵參數(shù)：
標(biāo)準(zhǔn)適用邊界：
參數(shù)解釋表：
| 參數(shù) | 定義 | 典型值 | 選型優(yōu)先級 |
|---|---|---|---|
| 溫度均勻性 | 工作室內(nèi)各點溫差 | ≤±2℃ | 高 |
| 濕度波動度 | 濕度設(shè)定值與實際值的最大偏差 | ≤±3%RH | 中 |
| 采樣率 | 數(shù)據(jù)記錄頻率 | 1次/秒 | 低 |
| 分辨率 | 溫濕度顯示最小單位 | ℃/ %RH | 中 |
選型決策流程：
| 廠商 | 溫度范圍 | 濕度范圍 | 容積選項 | 控制精度 | 符合標(biāo)準(zhǔn) | 附加特性 |
|---|---|---|---|---|---|---|
| 重慶四達(dá) | RT+10~100℃ | 20%~98%RH | 50L~2000L | ± ℃/± %RH | IEC 61215、GB/T 2423 | 遠(yuǎn)程監(jiān)控、數(shù)據(jù)追溯 |
| 東莞環(huán)儀 | RT~120℃ | 10%~98%RH | 100L~1000L | ± ℃/±2%RH | IEC 61730、UL 1703 | 應(yīng)急停機按鈕、防爆設(shè)計 |
| 德國Binder | -20℃~180℃ | 10%~98%RH | 115L~1000L | ± ℃/± %RH | ASTM D4329、ISO 16474 | 真空模式、CO?注入 |
典型故障：
維護周期：
Q1：雙85試驗箱能否用于薄膜組件測試？
A1：可以，但需確認(rèn)設(shè)備濕度上限（薄膜組件對水汽更敏感，建議選擇濕度波動度≤± %RH的設(shè)備）。
Q2：測試中組件出現(xiàn)氣泡，是設(shè)備問題嗎？
A2：不一定，可能是組件封裝工藝缺陷（如層壓溫度不足）或測試前未進(jìn)行預(yù)處理（如40℃干燥24小時）。
Q3：進(jìn)口設(shè)備與國產(chǎn)設(shè)備的核心差異？
A3：進(jìn)口設(shè)備（如Binder）在溫度均勻性、材料耐腐蝕性上更優(yōu)，但國產(chǎn)設(shè)備（如重慶四達(dá)）性價比高，且本地化服務(wù)響應(yīng)更快。
Q4：雙85試驗后組件功率衰減多少算合格？
A4：IEC 61215要求多晶硅組件經(jīng)1000小時雙85后功率衰減≤5%，單晶硅≤3%。
Q5：試驗箱能否改裝為雙65（65℃/65%RH）測試？
A5：可以，但需重新校準(zhǔn)溫濕度傳感器，并修改PLC控制程序（部分低端設(shè)備不支持參數(shù)自由設(shè)定）。
因老化試驗設(shè)備參數(shù)各異，為確保高效匹配需求，請您向我說明測試要求，我們將為您1對1定制技術(shù)方案
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