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隆安
2025-11-24 08:44:16
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老化房、試驗箱、老化箱/柜 > 生產(chǎn)廠家
隆安老化設(shè)備25生產(chǎn)廠家直銷價格，品質(zhì)售后雙保障，廠家直供價更優(yōu)！ 馬上咨詢
適老化房是針對高溫老化環(huán)境測試設(shè)計的專用設(shè)備，需滿足溫度控制精度、負載容量及安全聯(lián)鎖等關(guān)鍵技術(shù)指標。選型時應(yīng)重點關(guān)注標準符合性（如GB/T 2423）、容積匹配性及維護成本，避免因參數(shù)虛標或服務(wù)缺失導(dǎo)致測試失效。
適老化房主要用于模擬高溫老化環(huán)境，測試電子元器件、材料或整機的耐久性，典型應(yīng)用場景包括：
失效機理：高溫導(dǎo)致材料氧化、熱膨脹系數(shù)失配、潤滑劑揮發(fā)，進而引發(fā)接觸不良、結(jié)構(gòu)變形或功能失效。
| 參數(shù) | 說明 | 典型值 |
|---|---|---|
| 溫度范圍 | 最低溫~最高溫 | -70℃~+180℃ |
| 溫變率 | 升溫/降溫速率 | 3℃/min~10℃/min |
| 負載容量 | 最大可承載試樣重量 | 50kg~500kg |
| 控制精度 | 實際溫度與設(shè)定值的偏差 | ± ℃（高精度型） |
| 分辨率 | 溫度顯示最小單位 | ℃ |
| 采樣率 | 數(shù)據(jù)采集頻率 | 1次/秒 |
| 安全聯(lián)鎖 | 過溫、斷電、門禁保護 | 必須配置 |
| 廠商/型號 | 溫度范圍 | 濕度范圍 | 容積選項 | 控制精度 | 符合標準 | 附加特性 |
|---|---|---|---|---|---|---|
| 隆安LA-HT200 | -70℃~+180℃ | 10%~98%RH | 1~10m3 | ± ℃ | GB/T 2423、IEC | 遠程監(jiān)控、數(shù)據(jù)追溯 |
| 泰克TK-150 | -60℃~+150℃ | 20%~95%RH | ~5m3 | ±1℃ | GB/T 2423 | 應(yīng)急停機按鈕 |
| 日立HIT-3000 | -80℃~+200℃ | 15%~90%RH | 2~8m3 | ± ℃ | JIS、ASTM | 多語言界面、自動報警 |
A：檢查加熱管老化、傳感器校準、通風口堵塞。2025年SGS報告顯示，60%的波動問題源于傳感器偏移，需每年校準。
A：依據(jù)試樣尺寸+安全間距。例如，測試1m3電池包需選擇≥3m3設(shè)備，避免熱輻射干擾。
A：立即停機，檢查門禁開關(guān)、過溫保護模塊。依據(jù)GB/T 2423要求，安全聯(lián)鎖需通過型式試驗。
A：IC芯片測試選高精度型（± ℃），結(jié)構(gòu)件測試可選基礎(chǔ)型（±1℃）。
A：進口設(shè)備（如日立）溫變率更高（可達15℃/min），但維保成本高30%；國產(chǎn)設(shè)備性價比優(yōu)勢明顯。
因老化試驗設(shè)備參數(shù)各異，為確保高效匹配需求，請您向我說明測試要求，我們將為您1對1定制技術(shù)方案
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